哈爾濱KTR011抗開裂卷繞試驗裝置試驗方法
KTR011抗開裂卷繞試驗裝置試驗方法
1、絕緣熱衝(chong) 擊試驗
1.1取樣
每個(ge) 被試絕緣線芯應取兩(liang) 根適當長度的試樣，試樣應取自兩(liang) 處，間隔至少為(wei) 1m。若有外護層的話，應從(cong) 絕緣上除去。
1.2試樣製備
試樣應按下列三種方法中的一種進行製備：
a)對於(yu) 外徑不超過12.5mm的絕緣線芯，每一試樣是一段絕緣線芯。
b)對於(yu) 外徑超過12.5mm，絕緣厚度不超過5.0mm的絕緣線芯和所有的扇形絕緣線芯，每個(ge) 試樣應取成絕緣窄條，其寬度至少是絕緣厚度的1.5倍，但不小於(yu) 4mm。
窄條應沿絕緣線芯的軸線方向切取，如果是扇形絕緣線芯，應在絕緣線芯的“背部”切取。
c)對於(yu) 外徑超過12.5mm，絕緣厚度超過5.0mm的絕緣線芯，每個(ge) 試樣應按b)規定切取窄條，然後窄條的外表麵磨或削（避免過熱）到4.0～5.0mm厚，該厚度應在窄條的較厚部分測得，窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。
1.3試樣卷繞
每個(ge) 試樣應在環境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形，並將兩(liang) 端固定。
試棒直徑和卷繞圈數規定如下：
a)按1.2a）項製備的試樣、扁平電纜或軟線，表1規定了試棒的直徑和卷繞圈數。試棒直徑應按其短軸尺寸選取，卷繞時使其短軸垂直於(yu) 試棒。
表1
試樣外徑D/mm 試棒直徑/mm 卷繞圈數
D≤2.5 5 6
2.5＜D≤4.5 9 6
4.5＜D≤6.5 13 6
6.5＜D≤9.5 19 4
9.5＜D≤12.5 40 2
b)按1.2b）和1.2c）製備的試樣，表2規定了試棒的直徑和卷繞圈數。在這種情況下，試樣的內(nei) 表麵應與(yu) 試棒接觸。
表2
試樣厚度δ/mm 試棒直徑/mm 卷繞圈數
δ≤1 2 6
1＜δ≤2 4 6
2＜δ≤3 6 6
3＜δ≤4 8 4
4＜δ≤5 10 2
上述表格中，試樣直徑或試樣厚度應用遊標卡尺或其他合適的測量工具進行測定。
1.4加熱和檢查
繞在試棒上的試樣應放入預熱到有關(guan) 電纜產(chan) 品標準規定試驗溫度的空氣烘箱中，如果電纜標準沒有規定，則預熱到（150±3）0C，試樣在規定溫度下保持1h。
加熱結束後從(cong) 烘箱中取出試樣並在試樣達到近似環境溫度後，檢查仍在試棒上的試樣。
1.5試驗結果的評定
用正常視力或矯正後的視力而不用放大鏡進行檢查時，試樣應裂紋。
哈爾濱KTR011抗開裂卷繞試驗裝置試驗方法
2、護套熱衝(chong) 擊試驗
2.1取樣
每個(ge) 被試護套應取兩(liang) 根適當長度的電纜試樣，試樣取自兩(liang) 處，間隔至少1m。若有外護層應除去。
2.2試樣製備
a)對於(yu) 外徑不超過12.5mm的護套，每個(ge) 試樣應是一段電纜，但聚乙烯絕緣、聚乙烯護套電纜除外。
b)對於(yu) 外徑超過12.5mm，厚度不超過5.0mm的護套和聚乙烯絕緣電纜的護套，每個(ge) 試樣應是取自護套上的窄條，其寬度至少是護套厚度的1.5倍，但不小於(yu) 4mm，窄條應沿電纜的軸線方向切取。
c)對於(yu) 外徑超過12.5mm，厚度超過5.0mm的護套，每個(ge) 試樣應是按b）項規定切取的窄條，然後在窄條的外表麵磨或削（避免過熱）到（4.0～5.0mm）厚，該厚度應在窄條的較厚部分測得，窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。
d)對於(yu) 扁電纜，如果電纜的寬度不超過12.5mm，每個(ge) 試樣應是一段完整的電纜。如果電纜寬度超過12.5mm，則每個(ge) 試樣應是按b）規定從(cong) 護套上切取的窄條。
2.3試樣卷繞
每個(ge) 試樣應在環境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形，將兩(liang) 端固定。
按2.2a)項製備的試樣，及2.2d)項寬度不超過12.5mm的扁平電纜，試棒的直徑和卷繞圈數應按照1.3a)項規定。試棒直徑應按電纜的短軸尺寸選取，卷繞時應使其短軸垂直於(yu) 試棒。
按2.2a)和2.2c)項製備的試樣，及2.2d)項寬度超過12.5mm的扁平電纜，試棒直徑和卷繞圈數應按照1.3b)項規定。在這種情況下，試樣的內(nei) 表麵應與(yu) 試棒接觸。
2.4加熱和檢查
按1.4的規定
2.5試驗結果的評定
按1.5的規定
用正常視力或矯正後的視力而不用放大鏡進行檢查時，試樣應裂紋 每個(ge) 被試護套應取兩(liang) 根適當長度的電纜試樣，試樣取自兩(liang) 處，間隔至少1m；若有外護層應除去 對於(yu) 外徑不超過12.5mm的護套，每個(ge) 試樣應是一段電纜，但聚乙烯絕緣、聚乙烯護套電纜除外
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